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横河高速光谱仪AQ6360助力激光器芯片测量

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发表于 2020-9-17 15:57:03 | 显示全部楼层 |阅读模式
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  针对激光芯片测试,横河推出了高速光谱仪AQ6360,在测量100nm跨度时只用0.2秒,并且配置了全新的触摸屏,还带有自动校正入射光的接口,方便用户完成日常维护的工作。结合横河的波长计、多通道信号源测量单元(SMU)以及多应用测量平台,可以简单便捷地搭建起一个激光器芯片和激光器模块的测量系统,满足市场需求。

  更多产品介绍请看横河测试测量:h ttps:/ /tmi.yokogawa.c om/c n/solutions/products/

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