能量色散X荧光光谱仪

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仪器用途：
本仪器适用于镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析，属目前国内较为先进的高精度仪器。

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仪器特点：
特点可以概括为以下几点：1、上照式；2、测试组件可升降；3、高精度移动平台；4、小孔准直器；5、高分辨探测器；6、可视化操作；7、自动定位高度；8、自动寻找光斑；9、鼠标定位测试点；10、良好的射线屏障；11、超大样品腔；12、测试口安全防护。

性能优势：
1、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
2、Ф0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
3、高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005um
4、采用高度定位精光，可自动定位测试高度
5、定位激光精确定位光斑，确保测试点与光斑对齐
6、鼠标可控制移动平台，鼠标点击未知就是被测点
7、光分辨率探头使分析结果更加精准
8、良好的射线屏蔽作用
9、测试口高度敏感性传感器保护

标准配置：
开放式样品腔
高低压电源
双激光定位装置
X光管
铅玻璃屏蔽罩
高度传感器
Si-Pin探测器
保护传感器
信号检测电路
计算机及喷墨打印机
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

技术指标：

元素分析范围从硫（S）到铀（U）

分析检出限可达2PPM，最薄可测试0.005um

一次可同时分析出最多24个元素，5层镀层

分析含量一般为2PPM到99.9%

镀层厚度一般在50um以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的集体效应矫正模型

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

温度适应范围为15度至30度

仪器尺寸：576（w) * 495(D) * 545(H) mm

电源要求：交流220V±5%，建议配置交流净化稳压电源

仪器重量：约90Kg