CDD激光测量仪如何提高测量精度

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　　CCD光电测径仪

　　由于电机速度毕竟有限，而且扫描的平行光带不太容易保证，再加上现在平行光管与CCD的技术的发展，现在很多企业开始采用CCD成像法测量直径，其光源采用520nm的绿色固定波长，抗干扰较强，由于少了许多机械件，所以设备较稳定可靠并且成本降低，使用寿命增长。

　　CCD成像受相素的制约，在精度上不太容易拓展，特别是大直径的物体测量，但又不能太细，太细会有扫描测径仪相同的问题。但随着CCD技术的发展，光电测径仪的测量精度可达到0.003mm。可达到大部分被测物的测量精度要求，同时采用间距可筒双镜筒测头的技术，达到大直径测径的高精度检测，这种方法不仅可以测量大直径轧材外径值，还可以通过步进电机来调节测量范围。

　　CCD光电测径仪的测量方法的工作过程是：发射镜头内置一个点光源，点光源发出的光通过透镜系统(即镜片组)后形成准直平行光视场。

　　准直平行光直接射向接收镜头，经过接收镜头内的透镜系统后聚焦，通过位于焦点位置的光阑小孔后在CCD芯片上成像。

　　当视场中通过被测物时，被测物遮挡的部位将在CCD上出现一个边界清晰的阴影。CCD芯片是测头部件中的光电转换元件，它可以将接收到的光信号转换成电信号。电信号由信号采集电路接收、放大，再进行数字化处理后向上位机传输。

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