【A1550 IntroVisor】金属 断层成像检测仪

北京戴世达_x

【A1550 IntroVisor】金属 断层成像检测仪

中国总代理(含港澳台地区) - 北京戴世达

优势、特点:
   ◆对被测物体内部结构的实时成像
   ◆多种类型超声波的选择：
      — 横波用于检测缺陷
      — 纵波用于检测金属整体
   ◆增强的分辨率及敏感度表现，检测数据容易解读
   ◆能够检测不连续的缺陷
   ◆高效、快速
   ◆既能够作为断层扫描仪（B-SCAN）也能作为传统缺陷测量仪使用（A-SCAN）
   ◆电池可快速拆卸更换
   ◆易于使用的直观界面与核心设置，快捷的参数设置和控制，可以快速掌握设备

技术参数:
断层扫描成图尺寸...................................... 256×256
断层重建间隔...................................... 0.1 ～ 2.0 mm
工作频率.......... 1,0; 1,8; 2,5; 4,0; 5,0; 7,5; 10,0 MHz
波速范围....................................... 1000 ～ 9999 m/s
衰减范围................................................... 0 ～ 80 dB
衰减间隔.................................................... 1,6,10 dB
显示屏类型............................................ 5.7"彩色TFT
显示屏分辨率............................................. 640×480
电源................................................................ 锂电池
电压................................................................. 11.2 V
使用电池时操作时间............................................. 8 h
电子装置尺寸............................ 258×164×110 mm
电子装置重量.................................................. 1.9 Kg
操作温度............................................. -10℃ ～ 55℃

工作模式
断层扫描模式
       操作天线阵列和实时断层扫描，本模式下屏幕上
出现断层扫描（B-Scan）结果以外，还显示各种服
务信息，包括频闪、光标和数字指示器等。
       当探测到缺陷时，用户可以使用以下方法估算其
真实或等量尺寸：传统方法（对比反射信号与参考反
射信号，比较振幅）或缺陷探测方法（测量缺陷图像
特征点的坐标并量取它们在影像上的间距）。
缺陷检测模式
       作为一台便捷的缺陷检测仪使用，使用经典直射
或斜射传感器。信号以A-Scan形式显示。
       此模式下本设备拥有现代缺陷探测仪的一切功能
（内置DGS图表，多等级数字自动缺陷报警，可编辑
传感器输出脉冲形式等）。

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